<span id="uosw0"></span>

<ins id="uosw0"></ins>

products

產(chǎn)品分類

測試類

電刺激器功能測試儀氧容器測試儀壓力指示膠 X射線管系統(tǒng) 裂紋測深儀疏水閥測試儀空化儀空化計相控陣系統(tǒng) 槽楔塊對比敏感度計壁厚計壁厚測量儀附著力測試儀景深測試板安檢儀測試模體安檢套件電暈相機前置放大器孔型像質(zhì)計超聲探頭膠片掃描儀狹縫相機滲漏測試儀磁導(dǎo)率儀射線測量系統(tǒng) 焦點測試儀真密度儀密度分析儀絕緣測試儀屏幕測試儀線性放大器熱電偶校準(zhǔn)器劑量儀溫度記錄儀高清相機紅外相機紫外消毒測試儀光澤度計耐壓測試儀網(wǎng)絡(luò)分析儀烙鐵測試儀紅外觀察器紫外觀察器空氣質(zhì)量監(jiān)測儀甲醛測試儀高壓放大器 S型熱電偶鉑電阻溫度計巖石磁化率儀高頻放大器太陽陰影分析儀太陽陰影測量工具摩擦力測試儀數(shù)據(jù)記錄儀壓力表氣流分析儀滅菌器分析儀氣體分析儀數(shù)字特斯拉計空氣泄漏測試儀 IBP測試儀磁力計磁場計靜電計電壓表照度計流量泵電阻率計測量儀轉(zhuǎn)速表高斯計分辨率測試卡 X射線測試儀

查看全部產(chǎn)品 >>

article

相關(guān)文章

產(chǎn)品中心/ products

您的位置：首頁 - 產(chǎn)品中心 - 測試類 - 焦點測試儀 - NanoXSpot微焦點測試儀

微焦點測試儀

產(chǎn)品型號：NanoXSpot
更新時間：2026-03-04

簡要描述：NanoXSpot微焦點測試儀，NanoXSpot焦點測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進行質(zhì)量保證，根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點尺寸 <100 µm 和光斑形狀

產(chǎn)品詳情

品牌	德國Kowotest	產(chǎn)地	進口

NanoXSpot微焦點測試儀，NanoXSpot焦點測試儀詳細(xì)介紹：

NanoXSpot微焦點測試儀，NanoXSpot焦點測試儀用于對光斑尺寸 <100 µm 的 X 射線管進行質(zhì)量保證，根據(jù) prEN 12453-6、prEN 12453-7 評估焦點尺寸 <100 µm 和光斑形狀

歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃項目開發(fā)了新的 NanoXSpot (NxS) 測量儀，具有線組、西門子星形和孔圖，用于測量小至 100 納米的聚焦光斑

計算機斷層掃描 (CT)可以根據(jù)從物體周圍不同角度拍攝的一系列 X 射線圖像重建物體的體積數(shù)據(jù)集，這項技術(shù)被廣泛用于醫(yī)學(xué)中的患者診斷。此外，它還被用于航空航天和電子等行業(yè)的無損檢測、缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)的評估以及產(chǎn)品尺寸的驗證。這些行業(yè)對檢測分辨力的要求小至納米級。

隨著電子設(shè)備的小型化變得越來越普遍，以及隨著新技術(shù)（如電動汽車）的出現(xiàn)和航空工業(yè)中輕質(zhì)化合物的使用，對 5微米或更小分辨力（大約人類頭發(fā)絲寬度的 1/10）的 CT 測量的需求日益增加。X 射線管的光斑尺寸直接影響到測量分辨力。但是，對于5微米以下的 X 射線管光斑尺寸，標(biāo)準(zhǔn)或測量方法。X 射線設(shè)備制造商采用自有的測量方法導(dǎo)致了不一致的結(jié)果。因此，研究人員正在開發(fā)基于可溯源表征的測量儀來確定光斑大小、形狀和位置的新方法，并將作為這些光斑測量的標(biāo)準(zhǔn)引入。

歐洲計量創(chuàng)新與研究計劃（EMPIR）項目《對光斑小至100納米的 X 射線管焦斑尺寸的測量（NanoXSpot，18NRM07）》正在開發(fā)新的標(biāo)準(zhǔn)實踐，以比目前更高的準(zhǔn)確度水平表征 X 射線焦斑。

X 射線管的質(zhì)量保證 – 光斑尺寸和形狀
一段時間后，可能會觀察到 X 射線管（尤其是納米和微焦管）目標(biāo)的燒毀使用量，這可能導(dǎo)致光斑尺寸增加。一些管制造商允許管目標(biāo)旋轉(zhuǎn)。這允許改變目標(biāo)上的焦點位置并提供不失真的焦點尺寸

NanoXSpot 測量儀 (NxS)

? 全新測量儀設(shè)計 NxS-1020 最終確定：

• 使用新開發(fā)的算法進行焦點測量和特性分析

• 全新焦點 CT 重建算法

? 樣品支架設(shè)計便于測量儀使用

? NxS 測量儀上的圖案組（4 個象限）：

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 3-12 µm（Q1）

• 會聚線組圖案（Q2 和 Q3）（類似于西門子星）

• 直徑為 5 µm 至 1 mm 的孔圖案（Q4）

重新設(shè)計的 NxS-1022b 儀表

? 樣品架設(shè)計便于使用儀表

? NxS 儀表上的圖案組（4 個象限）：

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 4-20 µm（Q1）

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 63 µm（Q2）

• 直徑為 5 µm 至 1000 µm 的孔圖案（Q3）

• 不同方向的線組圖案結(jié)構(gòu)，特征尺寸為 25-50 µm（Q4）

NanoXSpot微焦點測試儀，NanoXSpot焦點測試儀規(guī)格：

外形尺寸：10 mm x 10 mm 芯片尺寸（帶藍(lán)寶石玻璃蓋的支架：40 毫米 x 30 毫米 x 5 毫米）

材料

襯底：200 μm 厚硅

吸收器：8 μm 高的金
線寬/間距：公差：+/- 15%
圖形線寬 [μm]：4 個象限，每個象限 4 mm x 4 mm;2 個經(jīng)過改進的西門子星形，具有圓孔和 5 條平行金線，線寬和間距分別為 12 μm、10 μm、8 μm、6 μm、5 μm、4 μm 和 3 μm。最小線寬：3 μm。最小孔徑：5 μm